缺陷检测AOI图像算法技术主任（J10248）

工作职责: 1.负责MES、YMS、DMS、SPC等系统的数据采集、清洗、建模及ETL/ELT流程搭建与落地执行，协助构建稳定、可扩展的数据仓库，参与建立数据质量管控体系，保障数据的一致性、准确性与时效性。 2.协助完善工厂数据可视化。基于工具开发生产数据看板、BI报表及驾驶舱，实现数据可视化与自助分析，向生产、工艺、设备、CIM等团队提供精准的数据洞察与决策支持，协助业务部门提供专业数据分析支援。 3.负责YMS/DMS等分析系统整体运维管控，收集生产、品质、研发等各部门新需求，开展需求分析、方案设计、二次开发、测试验证及上线部署，提升系统适配性和运营效率。 4.协助业务部门数据分析，基于设备、工艺、良率、测试等核心数据，开展统计分析、根因分析及趋势预测，聚焦OEE提升、良率优化、设备利用率提升等核心目标，推动产线效率与产品品质提升。 5.完成岗位职责范围工作，与 CIM、工艺、设备、质量团队紧密协作，理解业务痛点并转化为数据需求。参与 CIM 系统建设、数据平台升级、智能制造项目，提供数据分析与建模支持。 任职资格: 1.本科及以上，计算机、数据科学、电子信息等相关专业优先，3年以上工作经验，数据分析、数据挖掘、数据工程经验；半导体、面板等FAB厂CIM、MES、YMS相关经验优先。 2.了解半导体制造流程（面板/封测），熟悉MES、YMS、FDC、SPC、APC等系统与业务逻辑，具备独立开展数据分析及建模的能力。具备良率分析、设备故障预测、工艺优化等实际项目经验者优先。 3. 精通SQL，熟练使用 Oracle/MySQL等关系型数据库；熟悉数据建模、数仓设计、ETL 流程,具备报表和看板的开发能力。 4.熟悉JMP数据分析软件和脚本语言。熟练掌握Phyton、C#、javascript或类似数据自动化工具; 5.严谨细致、责任心强，具备良好的保密意识与团队合作精神，具备良好的职业操守和技术创新意识。